簡(jiǎn)要描述:日置絕緣電阻測(cè)試儀ST5520實(shí)現(xiàn)了“高速“絕緣電阻檢查,任意設(shè)置試驗(yàn)電壓值(25~1000V(1V分辨率)設(shè)置),快速釋放殘留電壓
產(chǎn)品分類(lèi)
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品牌 | HIOKI/日本日置 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子,航天,汽車(chē),電氣 |
日置絕緣電阻測(cè)試儀ST5520
特點(diǎn)
實(shí)現(xiàn)了"高速"絕緣電阻檢查
● 最快50ms的高速判斷
● 快速釋放殘留電壓
● 任意設(shè)置試驗(yàn)電壓值(25~1000V(1V分辨率)設(shè)置)
● 接觸檢查功能(防止由于接觸不良造成的誤判斷)
● 短路檢查功能(防止不合格品流入市場(chǎng))
主機(jī)無(wú)法單獨(dú)測(cè)量。請(qǐng)根據(jù)測(cè)量目的另外購(gòu)買(mǎi)測(cè)試線。
日置絕緣電阻測(cè)試儀ST5520
測(cè)試項(xiàng)目 | 絕緣電阻(直流電壓施加方式) |
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測(cè)試電壓/測(cè)量量程 | 25 V ≦ V < 100 V (2.000/20.00/200.0 MΩ), 100 V ≦ V < 500 V (2.000/20.00/200.0/2000 MΩ), 500 V ≦ V ≦ 1000 V (2.000/20.00/200.0/4000/9990 MΩ) |
基本精度 | ±2 % rdg. ±5 dgt. 25 V ≦ V < 100 V [0~20 MΩ], 100 V ≦ V < 500 V [0~20 MΩ], 500 V ≦ V ≦ 1000 V [0~200 MΩ] |
測(cè)試速度 | FAST:30ms/次,SLOW:500ms/次(切換) |
顯示屏 | LCD (壽命100,000小時(shí)),背光燈4階段 |
存儲(chǔ)功能 | 保存內(nèi)容:額定測(cè)量電壓、比較器上下限值、測(cè)試模式、判定時(shí)蜂鳴音、測(cè)試時(shí)間、響應(yīng)時(shí)間、電阻量程、測(cè)量速度 存儲(chǔ)數(shù):最多10組(可保存/讀?。?/p> |
測(cè)試模式 | 連續(xù)模式、PASS STOP模式、FAIL STOP模式、強(qiáng)制結(jié)束時(shí)判定模式(切換) |
比較設(shè)置 | UPPER_FAIL:測(cè)量值≧上限值 PASS: 上限值>測(cè)量值>下限值 LOWER_FAIL:測(cè)量值≦下限值 |
判定處理 | 蜂鳴音、PASS/U.FAIL/L.FAIL 的LED 燈亮,UL_FAIL時(shí)U.FAIL/L.FAIL同時(shí)燈亮,EXT. I/O 輸出、通過(guò)RS-232C獲取判定結(jié)果 |
試驗(yàn)時(shí)間計(jì)時(shí)器 | 0.045 s ~ 999.999 s(0.001 s 分辨率),從施加電壓到判定合格與否的時(shí)間 |
響應(yīng)時(shí)間計(jì)時(shí)器 | 試驗(yàn)開(kāi)始后,禁止按照0.005 s ~ 999.999 s(0.001 s 分辨率)設(shè)置比較器判定動(dòng)作的時(shí)間 |
模擬輸出 | DC +4 V f.s. |
接口 | RS-232C(標(biāo)配),外部I/O(外部控制器用輸入,判定結(jié)果輸出),BCD輸出(僅限ST5520-01) |
電源 | AC100 V ~ 240 V,50/60Hz,最大25VA |
體積及重量 | 215W×80H×166Dmm,1.1kg |
附件 | 使用說(shuō)明書(shū)×1、電源線×1、EXT.I/O連接器×1、連接器蓋×1 |
※L2200可延長(zhǎng)。請(qǐng)咨詢您最近的分支機(jī)構(gòu)。
1.5 m 長(zhǎng)
BNC-香蕉頭,用于連接輸入模塊的 BNC 端口
80 cm (31.5 in) 長(zhǎng)
紅、黑各1根,70cm, 插入主機(jī)端:香蕉頭端口, 前端部分可以針型頭和鱷魚(yú)頭替換使用, 最大輸入電壓:CAT IV 600V,CATIII 1000V
1.2m長(zhǎng)
9pin-9pin,1.8m長(zhǎng)
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